Ciao Alessandra e Benvenuta.
Vorrei porti subito una domanda.
Perche' cerchi un database Xrf "tipo quello dell'IR?"
Con l'XRF si compie un'analisi elementare. A parte nei casi dei fenomeni di interferenza o mascheramento i picchi degli elementi cadono piu' o meno sempre negli stessi punti. I picchi non hanno vere forme caratteristiche, ma si differenziano per lo piu' sulla base dell loro rivelabilita' (intensita' del picco). Senza prendere in considerazione fenomeni di interferenza, se devo cercare il Pb, so che dovro' verificare la presenza dell righe L e che le trovero' sempre piu' o meno a determinati KeV. Eventualmente possono esserci bande piu' o meno allargate o con cuspidi se c'e' interferenza tra piu' picchi, alcune possono assumero delle forme o shift caratteristici, ma sono casi abbastanza rari e facili da interpretare anche senza un database. Cio' che invece e' determinante e' verificare che picchi molto intensi non coprano altri elementi, ma in questo caso e' molto piu' importante avere delle buone e complete tabelle delle principali righe di emissione in KeV dei vari elementi piuttosto che un database di spettri.
Per l' analisi FTIR, invece, avere un database e' molto importante, perche' nell'interpretazione dei dati non e' indicativa solo la posizione del picco o la sua intensita', ma la particolare forma che i picchi assumono (infatti vengono detti picchi caratteristici o diagnostici) tipica e diversa per moltissimi materiali. L'interazione tra due materiali puo' creare altre forme caratteristiche, quali ad es. bande allargate tipiche ecc.
Per queste considerazioni, ti chiedo perche' stai cercando un database di spettri Xrf.
Se la tua richiesta e' fatta allo scopo di prendere confidenza sulla effettiva rilevabilita' dei vari elementi o per imparare a interpretare i fenomeni di mascheramento, io ti consiglio di fare una serie di analisi su standard noti (o per lo meno su campioni di riferimento noti) e di usare quella. |
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